ニュース・イベント
SPECTRO MSがPITTCONで銀賞を受賞
- 市場における最新鋭機器、ICP質量分析装置が技術報道賞を受賞
- 無機元素の完璧な同時分析ができる初めてのICP質量分析装置
- SPECTRO MS は将来の標準装置」とManfred Bergsch
( 独スペクトロCEO )がコメント
SPECTRO MSが、2010年の PITTCON（フロリダ州オーランド、2月28日〜3月5日）で報道賞銀賞を受賞いたしました。 この賞は展示会に出展された革新的な新製品を対象に、著名な科学技術関連の報道関係者たちによって選出されるものです。
受賞への道のりは容易ではありません。まずは公認の報道関係者150人が展示会を巡回して出展品を吟味し、各メディア代表者が傑出した3製品をそれぞれノミネート。その中から審査官が予備審査を行い、最終的に3つの賞を決定します。
「出展した1000 社が、たった3つの賞（金・銀・銅）を争う狭き門です。私たちは、この初めての栄誉を非常に誇りに思っています」と、Manfred Bergsch（ドイツ・スペクトロCEO）はコメントしています。
世界で最初の完璧な同時分析ICP質量分析装置である「SPECTRO MS」は、6Liから238Uまでのすべての元素のマススペクトラムを自動的に記録することで、今までのシーケンシャル質量分析装置よりもはるかに高いサンプルスループットや、精度と正確さをユーザーに提供します。
「このたびの受賞で、SPECTRO MSが将来のICP質量分析の概念を変えるという私たちの見解が裏付けられました。同時測定という画期的な機能は、数年前に登場した発光分光装置と同様に、この市場に改革を起こすことになるでしょう」とBergschは説明しています。（2010年3月、クレーフ）
SPECTRO MSのテクノロジー
SPECTRO MSは、今までの連続分析の質量分析計よりもはるかに正確で再現性の高い結果をもたらすだけでなく、測定速度も大幅に向上しています。
全スペクトルの同時記録は、新しく設計されたハイエンドのコンポーネントによって可能になりました：
- ビームから中性粒子や光子を取り除きながら、プラズマからのイオンを極めて能率的に質量分析装置へ輸送する斬新なイオン光学。
- Mattauch-Herzogジオメトリ－を持つ2重収束セクター型質量装置静電分析器と永久磁石が、イオンビームの追加なしで焦点面の上にイオンを直接供給。
- 4,800のチャンネルを持つ極めて強力な検出器が質量分析計の焦点面に置かれ、完全に、かつ同時に、リチウムからウランのマススペクトラム全体を記録。またこれらのチャンネルのそれぞれ異なった信号増幅によってさらに2つの別個の検出器に分配することで、SPECTRO MSは同位体比率を正確に測定します。
新しいSPECTRO MS の応用範囲は多様です。スペクトロは、同製品の極めて高いサンプルスループットとその性能が、研究開発分野に広く貢献できると考えています。その精度、サンプルスループット、および測定元素のすべてのマススペクトル全体の永久的な情報により、SPECTRO MSが各種研究開発の基準システムとして定着することを期待しています。
同位体比率の明確化
研究開発分野ばかりでなく、同時分析の質量分析装置は様々な分野に対して魅力的な機能を提供します。例えば、環境、化学、および製剤の研究所では、本装置の低い検出限界と高いサンプルスループットが大いに役立ちます。はるかに異なる質量範囲でも同時に複数の同位元素比率を測定できる機能によって、新しい応用分野が見出されるでしょう。例えば地質学の研究において、サンプル測定をより正確に行うことができます。
ICP-MSの背景
ICP-MSは約30年にわたって元素分析の手段として用いられてきました。 元素の含有量は、その質量の違いに基づいて測定されていました。まず液体サンプルはネブライザーによって摂氏10,000度の状態で噴霧化され、アルゴンのプラズマの中に入れられます。プラズマはサンプルの中に含まれている元素のすべてをイオン化します。イオンはイオン光学系のインタフェースによって輸送されてイオンビームに入れられ、質量分析計の中で焦点が合わせられます。質量分析装置は、マス／チャージ関係に従ってイオンビームを分離します。検出器はイオンを記録し、元素の含有量分析を行います。世界で最初のICP-MS機器として、新しいSPECTRO MSはイオン光学系、質量分析装置、および検出器のユニークな組み合わせによってイオンを永久的分離し、同時に検出することを可能にするのです。
SPECTRO MSが幕張メッセに登場
スペクトロは、最新の分析機器、科学機器が幕張に集結する合同展「分析展2010／科学機器展2010」に出店します。
2010年9月1日（水）〜9月3日（金）
午前10時〜午後5時
場所：幕張メッセ国際展示場
ブース：7A-303 （アメテック内）
併催：新技術説明会／JAIMAコンファレンス
共催：東京コンファレンス
スペクトロとは
スペクトロは発光分析装置や蛍光X線分析装置の分野における世界の主要なサプライヤーのひとつです。高度な機器を製造し、最適なアプリケーションを提供し、模範的な顧客サービスを提供しております。スペクトロ製品はユニークな技術によって顧客に計り知れないメリットをもたらし、1979年から今日まで30,000台 を超える分析装置を全世界の顧客に供給してきました。
アメテックは、電子機器と電気モーターの世界的なサプライヤーであり、約25億米ドルの年間売上高を誇ります。
本件に関するお問合せ先
アンドレアス・エーデン 03-3740-3916
来る9月1日（水）から9月3日（金）までの3日間、幕張メッセ国際展示場におきまして下記の通り先端技術の粋を集めた分析機器を出展いたします。
日時:
2009年9月1日（水）〜9月3日（金）
午前10:00～午後5:00
場所:
幕張メッセ国際展示場
7A-303（アメテック・ブース
セミナープログラム
日時：9月1日（水）14:50～15:40
部屋：A-7
テーマ：新製品二重収束ICP質量分析装置SPECTRO MSと多元素同時分析ICP発光分析装置SPECTRO ARCOSの特徴 発表要旨：二重収束質量分析装置で高速・同時分析が可能である新発売のICP-MSの SPECTRO MS 及びハロゲン等の真空紫外領域が測定でき、オイル等の直接分析が可能であるICP発光分析装置 SPECTRO ARCOS の紹介
また同期間内にはスペクトロと同グループの「エダックス」の新技術説明会も開催されます。
日時：9月3日（金）15:10～15:35
部屋：A-2
テーマ：購入前必見！ あらゆる分野の品質管理に最適！ 高感度微小部蛍光X線分析装置のご紹介
発表要旨：最新の微小部蛍光X線分析装置Orbisによる食品、医薬品、化学、電気・電子分野の品質管理事例をご紹介
その他、展示会についての詳細は『分析展2010／科学機器展2010 開催について』をご覧ください。
新型ICP質量分析装置SPECTRO-MS セミナーのご案内
平成22年8月吉日
日時 ：平成22年8月31日
時間 ：13:30～16:30
場所 ：中央大学 5号館
拝啓 時下益々ご清祥のこととお慶び申し上げます。さて、2010年3月に発表いたしましたICP質量分析装置 SPECTRO MSの日本における新製品発表会を兼ねた、装置の技術セミナーを別紙の通り開催いたします。この装置は既存のICP質量分析装置にはない画期的な新しい技術を持っており、今回、装置のプロダクトマネージャーによる、新技術のアプリケーションデーターを交えセミナー形式で発表いたします。皆様方には大変お忙しい時期ですが、是非参加の程よろしくお願い致します。
セミナー内容
13:30
スペクトロの紹介
13：45
ICP 質量分析装置 SPECTRO MSの紹介
－Part 1－
14：30 休憩
1４:45
ICP 質量分析装置 SPECTRO MSの紹介
－Part 2－
15：30
質疑応答
16：00
閉会
アクセス:
中央大学 理工学部応用化学科 後楽園キャンパス
東京都文京区春日1-13-27
• 東京メトロ丸ノ内線・南北線『後楽園駅』から徒歩5分
• 都営三田線・大江戸線『春日駅』から徒歩7分
• JR総武線『水道橋駅』から徒歩15分
E-Mailアドレスまで下記のお客様情報をコピー＆ペーストした上ご記入頂きご送信ください。
spectro-japan.info@ametek.co.jp
ICP発光分光分析装置ワークショップのご案内
平成22年3月19日(金)
- ＳＰＥＣＴＲＯ ＡＲＣＯＳ のアプリケーションと前処理を含む実践的ICP分析手法のご紹介 -
-
日時 ：平成22年3月19日(金)
時間 ：13:30～17:30
場所 ：中央大学 5136 室
一昨年及び昨年のセミナーに引き続き、本年は弊社ＡＲＣOSシステムの最近のアプリケーションを中心にサンプリング前処理を含めた新しい分析技術を同装置を使ったワークショップ形式により、皆様に広く製品に対するご理解を賜りたくご案内させて頂きます。
弊社としましてはこれらのアプリケーションサポートを通じて、より皆様との密接な関係を築き、優れた製品と価値を提供させて頂こうと努力して参る所存ですので、今後ともご愛顧を賜りますようよろしくお願い申し上げます。
セミナー内容
13:30
スペクトロの紹介
1３:45
ＩＣＰ試料導入系新製品の紹介 －Ｍａｒｉｎ５ 高機能ネブライザー －
㈱エス・ティ・ジャパン
14:10
マイクロ波による試料前処理法
マイルストーンゼネラル（株）
14：35 休憩
1４:50
ＳＰＥＣＴＲＯ ＡＲＣＯＳ, アプリケーションの紹介
スペクトロ
１５：20
ICP発光分析法による水道水および河川水中のCl, Br, I の定量
古田 教授, 中央大学
16：00
ＳＰＥＣＴＲＯ ＡＲＣＯＳ 実機デモ
スペクトロ
1７:15 閉会
アクセス:
中央大学 理工学部応用化学科 後楽園キャンパス
東京都文京区春日1-13-27
• 東京メトロ丸ノ内線・南北線『後楽園駅』から徒歩5分
• 都営三田線・大江戸線『春日駅』から徒歩7分
• JR総武線『水道橋駅』から徒歩15分
ワークショップへのご参加の登録方法
E-Mailアドレスまで下記のお客様情報をコピー＆ペーストした上ご記入頂きご送信ください。
spectro-japan.info@ametek.co.jp
来る9月2日（水）から9月4日までの3日間、幕張メッセ国際展示場におきまして下記の通り先端技術の粋を集めた分析機器を出展いたします。
日時:
2009年9月2日（水）-9月4日（金） A.M.10:00-P.M.5:00
場所:
幕張メッセ4ホール、4A-601
出展機器
-偏光光学系蛍光X線分析装置 SPECTRO XEPOS
-ハンドヘルド型蛍光X線分析計 SPECTRO x SORT
-ICP発光分光分析装置 SPECTRO ARCOS（パネル展示）
-ICP発光分光分析装置 SPECTRO GENESIS（パネル展示）
新技術説明会
- ICP発光分光分析装置によるワイン中の微量元素分析
2009年9月2日（水）
部屋番号A-3
A.M.11:10-A.M.11:35
-購入前必見！一歩先を行く蛍光X線分析装置
2009年9月4日（金）
部屋番号A-7
P.M.2:50-P.M.3:40
CCDテクノロジーの据置型金属分析装置の第5世代
アルゴンガスの消費を大幅に軽減させ、自己診断機能、小径試料分析機能を充実させています
SPECTROは新型の金属分析装置SPECTROMAXxをCONTROLトレードショー（5月5～8日、ドイツ、シュツッツガルト）で発表しました。
ここ数年SPECTROのCCDベースの金属分析装置は大きな成功を収めており、2005年以来約3500台が出荷されています。従来型から大きな進化を遂げた本機は、特にアルゴンガス使用量の削減と、小型試料の分析のためのアダプター開発に注力されました。
SPECTROMAXxは世界標準の金属分析装置となることを念頭において作られており、同社のマーケティング担当のTom Milnerによると「このような最高性能を持つ機種においても、第5世代になると経済的でフレキシブルでユーザーフレンドリーであることが求められるため、我々はハードルを上げました」。
新型のアルゴンガスセービングモジュール
今回の改良によって、装置を使用していない時のアルゴンガスの使用をゼロにすることができました。プロダクトマネージャーのKay Toedterによると「作業終了時にスパークジェネレーターをオフにすると、アルゴンガスのフラッシュがゼロになります。オペレーターは翌朝装置を使い始める時間をセットしておけば、システムは自動的にスタートアップして適切にアルゴンの供給を開始し、セットしておいた時間に使用を開始できます」。長時間装置を使用しない週末や休暇時には装置は完全に停止され、更にアルゴンガスをセーブできます。
小型試料の分析
SPECTROMAXxでは小型試料の分析にも改良が見られており、鉄やアルミ、銅等のマトリクスのネジやピン、ワイヤー、シート等も分析可能になっています。小型試料の分析においても全ての標準的なメソッドパッケージが使用でき、同時に小型試料用のアダプターも付属しています。このアダプターに小型試料がしっかりと取り付けられ、小型試料分析のスループット向上の効果ももたらしています。
新型自己診断システム
SPECTROMAXxは総合的な自己診断機能を持ち、オペレーターやサービスマンに対し、装置のメンテナンスの面からの情報を与えることができるようになり、サービスコールを受けた後の早期復帰にも寄与します。
また、装置内部の部品もメンテナンスの立場から見直され、フィルターの交換やフィルターカートリッジの交換の際に障害となる部品を取り外す必要はなく、UVレンズは装置の外側からクリーニングや交換ができます。
このようなハードウェアの変更とだけでなく、SPECTROMAXxではSPECTROLABシステムと同じスパークアナライザービジョンソフトウェアが使用できます。
SPECTRO xSORTの新しいアプリケーションパッケージにより、RoHS分析、鉛のスクリーニング、環境分析、鉱業等への対応が可能になりました
シリコンドリフト検出器の高いスループットにより、S～Uまでの元素範囲の高速で高精度な分析が可能です
SPECTRO分析機器は、Pittcon2009(Mar8～13)においてxSORTハンドヘルド型XRFによる新しいアプリケーションを発表しました。同機は2008年9月に金属分析用として発表されたもので、RoHS指令や鉛のスクリーニング、土壌等の環境分析、鉱石の分析等に応用範囲が広がりました。
SPECTRO xSORTは僅か1.7kgのスクリーニング用非破壊XRF分析機器で、数秒の分析時間によりS～Uまでの元素範囲の中の重要な元素の含有量を測定することができます。最新のシリコンドリフト型（SDD）検出器が使われているxSORTは、これまでのハンドヘルド型に使われていた検出器に比べ10倍高速に信号処理が可能です。SPECTROのプロダクトマネージャーDirk Wissmannによると、「分析の内容により、xSORTは従来型の装置に比べて速い分析速度で使用することもでき、又、これまでと同程度の分析速度により更に高い検出感度や分析精度を得ることもできます」。
魅力的な価格にもかかわらず高い処理速度による高速な分析
今回のアプリケーションレポートでは高速でのRoHS分析や鉛のスクリーニングが重要課題とされており、Wissmannによると「米国ではおもちゃや化粧品、宝石等における鉛の残渣の基準が厳しくなっており、製品のリコールやクレームによる補償などが起こっています。このようなことは世界中の小売業で拡がりつつあります」。SPECTRO xSORTはこれらを踏まえ、低価格な装置で試料を非破壊のまま分析できる高いフレキシビリティーを実現しました。
一方、スクリーニング分析に対してはxSORTの分析速度が重要となります。「例えば倉庫等で検査を行うためのハンドヘルド機器を使用する場合、従来の機器では30～90秒程度は機器を保持する必要がありましたが、xSORTはより高速に作業を終わらせることができるため、作業者への肉体的な負担も軽減されます」。
環境分析のスクリーニングがxSORTにとって次に重要なアプリケーションとなります。ユーザーは単にボタンを押すだけで、土壌、へどろ等の沈殿物、また現在は法律に触れる防腐剤が使用された使用済みの電柱かどうかを判断することができます。このような場合は操作が簡単であることが重要で、ユーザーはプローブをこれらの試料に向けて、数秒間トリガーを引くだけでPDA上に元素分析の結果を表示させることができます。小さい試料や薄い試料の場合は、オプションのドッキングステーションを使用します。xSORTには分析精度を向上させるための様々なオプションが準備されており、土壌等の広域の分析が必要な場合や採集した岩石の分析を行う場合は、GPSモジュールを使用して分析位置と分析結果を統合させることもできます。
これら、RoHS分析用、鉛のスクリーニング用、環境分析用の3種のアプリケーションパッケージは間もなく世界同時リリースとなります。
RoHS分析のスクリーニングから貴金属、科学捜査に至る幅広い応用範囲を備えています
シリコンドリフト検出器による高速な分析とワーキングディスタンス20mmでの分析が可能です
SPECTROは第三世代を迎えたマイクロXRF装置であるMIDEXをPittcon2009（3月8日～13日、シカゴ）で紹介しました。従来型に比べてより高速で柔軟性のある装置となり、電気関係、貴金属、自動車、航空産業、科学捜査等に向けて設計されています。
MIDEXはマイクロフォーカスの空冷X線管球を使用し、ソフトウェア制御のポイント分析を行ないます。分析スポットは200ミクロンから4mmまでを選択でき、これまでMIDEXとMIDEX Mに分かれていたものを統合して最新のシリコンドリフト検出器を採用しました。検出器には最大25万cpsの入力が可能で、プロダクトマネージャーのDirk Wissmannによると「EC規格の標準のプリント基板が30分で分析可能」。ポイント分析の間にMIDEXは2分で元素の含有量を計測し、20mmのワーキングディスタンスでも結果を得ることができます。これにより高さのある部品を含む自動車用の試料等にも非破壊で対応できます。
モータードライブ試料ステージ
MIDEXの試料室にはオプションでモータードライブXYZステージが装着可能で、
マッピング分析においてはその移動量を240×178ミリの範囲でプログラミングし、基板上のコンデンサーなどの分析が可能です。Dirk Wissmannによると「XYZステージをオートサンプラーとして使用し、自動分析も可能」。更にインテグレートされたビデオシステムにより、ビデオ画像から分析ポイントを指定することができます。
表面と谷間の分析
新型MIDEXは2種類の操作が可能です。標準構成では励起源と分析スポットの間は2mmで、貴金属等の平らな表面の大きな分析スポットによる高速なポイント分析に適しています。この場合、ヘリウムフラッシュを使用することでMg～Tiまでの軽元素の分析も可能となります。
一方、MIDEXは励起源と分析スポットの間隔を20mmに設定することもできます。これは非破壊分析に有効で、宝石の3次元形態の解析等に適しています。
マーケティング担当のTom Milnerは「MIDEXのマーケットを2つに分類し、一つ目はマッピング分野で、オプションの20mm深さを使って、RoHSのスクリーニング分析用の新しいツールと捉えている。二つ目は宝石や貴金属分析のマーケットで、MIDEXは高価な宝石やアートワークのための非破壊分析ツールとして威力を発揮する」。また、自動車産業や航空産業、警察での科学捜査などにも適応している。
プラグ&アナリシスを実現したマルチタイプCCD ICPシステム
豊富な機能と簡単操作－新型ソフトウェアSmart Analyzer Vision 4.0 でさらなる生産性の向上を実現
2009年3月8日、シカゴのPittcon（3月8日～13日）においてSPECTROはCCD方式のマルチタイプICP、新型GENESIS（ラジアル測光、アキシャル測光を選択可）を紹介しました。GENESISは環境分析や工業分野のルーチン分析に有効で、波長範囲175～777nmの多元素同時分析が可能。同価格帯の機種に比べて分析のスループットに優れています。
新しいソフトウェアにより機能が充実しています
新型GENESISのポイントとしては、Smart Analyzer Visionが4.0となることで、さらなる生産性の向上、容易な操作性を実現しました。4.0はWindows Vistaに完全対応し、自動分析、手動分析、スペクトルビューワー等6つの項目から成り立っています。
プロダクトマネージャー、Olaf Schulzによると、「ユーザーはマウスのシングルクリックのみで装置の各部分にアクセスすることができ、シンプルで直感的な操作が可能です」とのこと。Smart Analyzer Vision 4.0にはWindowsの新機能が取り入れられています。
新しいソフトウェアには、ラボでの使用にとって必要な機能が増え、高いスループットを得るために最適化が計られています。これらには多くのインポート、ソーティング、フィルタリングの機能等が含まれ、流れ作業や自動化でスループットの向上を実現します。例えば、仕様検査を行う場合は、自動的に分析結果が仕様を満足するかどうかを判定し、満足していない場合にはマーキングを行います。
メソッド作成をシンプル化
新たな機能で、メソッドの作成／編集を簡素化させることができます。新型GENESISから、自動でのピーク・バックグラウンドポジショニング機能が追加されました。Olaf Schulzのコメント：「これまで新しいメソッドを作る場合には手動でピークポジションを設定しなければなりませんでした。これは非常に手間のかかる作業です。今回からはマウスのクリックにより自動でピークのポジションを設定でき、時間の短縮につながります」
新しいハウジングのデザインと改良されたハードウェア
SPECTRO GENESISのハードウェアは改良され、SPECTRO ARCOSと同じ高圧供給部分を使用するなど、信頼性の向上が計られています。
ICP発光分光分析装置ワークショップのご案内
- サンプリングから前処理を含む実践的ICP分析手法のご紹介 -
来る3月19日（木）に中央大学においてSPECTRO ICPワークショップを開催致します。昨年の第一回のセミナーに引き続き、本年はより実践的にサンプリング～試料の前処理～実際の分析に至るまで同装置を使ったワークショップ形式により、ICP分析だけでなく試料の前処理までも含んだソリューションを提案させていただきます。
今回も中央大学 古田直紀教授をはじめとする各講師の方々により最新のアプリケーション事例の紹介、実機を使ったSPECTRO ARCOSの紹介を行います。詳しくは下記のセミナーの案内をご参照頂き、ご参加をご希望の方は下段よりメールにてご登録下さい。皆様の多数のご参加をお待ちしております。
日時 ：平成21年3月19日
時間 ：13:00～17:30
場所 ：中央大学 5135 室
ワークショップ内容
13:00
開会のご挨拶
新製品 SPECTRO ARCOS , Genesis のご紹介
13:45
マイクロ波による環境試料の前処理法
マイルストーンゼネラル（株）
14:15 休憩
14:30
無機分析のための固相前処理
(ジーエルサイエンス（株）)
15:00
ICP発光分析法を用いた大気粉塵及び
河川水•海水中の微量元素分析
15:30
– 実機によるデモ/Q&A
4 グループにより サンプル採集、マイクロウェーブ、
試料前処理、ICP分析のワークショップ
17:30
– 閉会のことば
アクセス:
中央大学 理工学部応用化学科 後楽園キャンパス
東京都文京区春日1-13-27
• 東京メトロ丸ノ内線・南北線『後楽園駅』から徒歩5分
• 都営三田線・大江戸線『春日駅』から徒歩7分
• JR総武線『水道橋駅』から徒歩15分
ワークショップへのご参加の登録方法
E-Mailアドレスまで下記のお客様情報をコピー＆ペーストした上ご記入頂きご送信ください。
spectro-japan.info@ametek.co.jp
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所属 ：
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