蛍光X線分析装置

エネルギー分散型蛍光X線のテクノロジーはシンプルでありながらさまざまなタイプの試料に対して正確で経済的な分析方法であると言えます。

非破壊で試料準備も最小限で済み、固体、液体、粉体の試料を取り扱うことができます。ナトリウムからウランまでの元素範囲に対して同時分析が可能で検出限界はサブppmレベルにまで達しています。

スペクトロはED-XRFの製造メーカーのリーダーとして新製品の開発やアプリケーション開発により様々な分野で標準機として採用されてきました。特定の分野で活躍する小型のベンチトップ型システムから、幅広いアプリケーションをまかなう機種までの製品レンジを揃えており、お客様の必要な機種を見つけていただくことができます。

蛍光X線分析装置の概要

蛍光X線分析装置にかけられた試料に含まれる元素はX線管球による一次X線により励起され、元素の含有量に比例したスペクトルの強度が得られ、予め装置内にデータベースとして保存されている検量線と比較され、各種の補正計算(2次励起や吸収係数、重複ピーク補正等)を経た後に数値化されます。検量線は純試薬や基準となる既知濃度の物質から得られます。